一、密封端麵的平麵度怎(zen)樣(yang)檢測(ce)?

平麵度(也稱平直度)是密封環很(hen)重(zhong)要的一個質量(liang)指標(biao)，要求在0.0009mm以內，這樣(yang)的數量(liang)級用普(pu)通的量(liang)具(ju)是無(wu)法測(ce)量(liang)的。既準確(que)又迅速的方法是用光幹涉法。它需要一個光學平晶和單色光源(yuan)，一般用鈉光燈(deng)。檢側時，將平晶放到(dao)被杜灼密封端麵上，斜(xie)上方用鈉光燈(deng)照射(she)(圖15）檢查幹涉條紋(wen)的數量(liang)。

鈉光的波(bo)長(chang)為(wei)0.6um每個幹涉條紋(wen)為(wei)半個波(bo)長(chang)，即一條幹涉條紋(wen)為(wei)0.3um，由幹涉條紋(wen)的數量(liang)即可確(que)定密封端麵的平麵度。

二、怎(zen)樣(yang)確(que)定幹涉條紋(wen)的數量(liang)？

密封端麵的平麵度不同，條紋(wen)的種類也不同。圖16表示了(liao)幾種平麵度合(he)格的圖像，至(zhi)於不合(he)格的圖像各式各樣(yang)未予(yu)繪(hui)出(chu)。

圖16a是平直的條紋(wen)，表明(ming)密封端麵的平麵度接近(jin)光學平晶的平麵度，顯(xian)然這種平麵度最高;圖16b是彎曲的條紋(wen)，幹涉條紋(wen)數在一條以內，即小於0.3um;圖16ac也是彎曲的條紋(wen)，幹涉條紋(wen)數為(wei)二條，平麵度在0.6um以內，圖16d是同心圓狀的幹涉條紋(wen)，如果(guo)是從平板研磨(mo)後取下來檢驗平麵度，這說明(ming)端麵的內緣高，外緣較低，同心圓數量(liang)越多(duo)，其內外緣高低差別越大。對壓力不高的密封不能(nen)超過(guo)3個同心圓(按平麵度 0.0009mm控製)，否則密封端麵泄漏(lou)量(liang)過(guo)大。在壓力較高的平衡型(xing)密封中，可能(nen)將密封端麵推(tui)開，因此，如出(chu)現(xian)同心圓狀的條紋(wen)夕不要超過(guo)2個。

平麵度檢驗時務必經(jing)拋(pao)光後才能(nen)進行，否則，表麵光潔度不夠，條紋(wen)照射(she)不出(chu)來，尤其對石墨(mo)環更(geng)是這樣(yang)。此外，平晶和密封環端麵要擦(ca)千(qian)淨，不得(de)有水分和灰塵(chen)，平晶要精心保管夕避免將麵擦(ca)傷(shang)。為(wei)了(liao)保證檢驗的精度，還應對平晶定期校驗。

三、為(wei)什麼對密封端麵的粗糙(cao)度要求很(hen)高?

密封端麵越光潔，承載能(nen)力越大，尤其是端麵比壓大的密封更(geng)顯(xian)得(de)重(zhong)要。密封端麵粗糙(cao)度不同，承載麵積差別很(hen)大。有人隻將密封端麵研磨(mo)後就安裝使用，由表1可知，此時隻有40%的承載麵積，顯(xian)然端麵比壓增(zeng)加(jia)1.5倍。假(jia)如端麵比壓為(wei)0.4MPa實(shi)際上將達(da)到(dao)1.0MPa。對碳化鎢(wu)環和石墨(mo)配對的摩擦(ca)副，由於硬(ying)度和彈性(xing)的不同就有可能(nen)在碳化鎢(wu)環表麵的高點處，因局部壓力過(guo)大而(er)發熱甚至(zhi)裂紋(wen)，石墨(mo)環表麵將磨(mo)出(chu)細微的環狀溝(gou)紋(wen)。泵的振(zhen)動和動靜環的不同心，會加(jia)劇這種磨(mo)損。被磨(mo)損掉的石墨(mo)存在於密封端麵之(zhi)間，形成了(liao)磨(mo)粒(li)磨(mo)損，使磨(mo)損變得(de)更(geng)加(jia)劇烈，泄漏(lou)出(chu)來的介質含(han)有石墨(mo)的顆粒(li)而(er)呈(cheng)現(xian)黑色。很(hen)多(duo)密封安裝後，開泵出(chu)現(xian)這種現(xian)象，其原因在於密封端麵不光潔或不平。